A135M TESTPOINT

El testpoint o punto de prueba, son regularmente dos puntos, a los cuales se les une mediante un punte sea temporal, con pinza o alambre, esto permite al equipo, entrar en modo de ingeniería, para poder comunicarse con el usuarío a través de un computador, y realizar operaciones de mantenimiento al equipo celular.

En este caso tenemos el a135m testpoint, este equipo es de cpu exynos.

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Los testpoints son puntos de acceso estratégicamente ubicados en los circuitos impresos de los dispositivos electrónicos, incluidos los teléfonos celulares, para facilitar el diagnóstico y la solución de problemas durante el proceso de fabricación, pruebas y reparación. En el contexto de la telefonía celular, los testpoints son cruciales para los ingenieros electrónicos, ya que permiten el acceso a puntos críticos del circuito para realizar mediciones y pruebas sin necesidad de desmontar completamente el dispositivo.

Función de los Testpoints

Los testpoints sirven para varios propósitos, entre los que se incluyen:

1. Medición de señales: Permiten la medición de voltajes, corrientes y señales de datos en puntos específicos del circuito.
2. Depuración de firmware: Facilitan el proceso de depuración de software y firmware al proporcionar puntos de acceso para la conexión de dispositivos de programación y depuración.
3. Diagnóstico de hardware: Ayudan en la identificación y resolución de problemas de hardware al permitir el acceso a componentes clave del circuito.
4. Pruebas de fabricación: Durante el proceso de fabricación, los testpoints se utilizan para verificar la funcionalidad y la calidad del dispositivo.

Clases de Testpoints

Los testpoints se pueden clasificar en diferentes categorías según su función y ubicación en el circuito. Algunas de las clases comunes de testpoints incluyen:

Por Ubicación:

1. Superficie: Están ubicados en la superficie del circuito impreso y son accesibles sin la necesidad de desmontar el dispositivo.
2. Internos: Se encuentran dentro del dispositivo y generalmente requieren desmontaje para acceder a ellos.

Por Función:

1. Análogos: Permiten la medición de señales analógicas como voltajes y corrientes.
2. Digitales: Facilitan la medición de señales digitales y la depuración de firmware.
3. Alimentación: Proporcionan acceso a los puntos de alimentación del circuito para la medición de voltajes de alimentación.
4. JTAG (Joint Test Action Group): Se utilizan para la depuración y programación de dispositivos integrados a través de la interfaz JTAG.

Clasificación por Marca de Procesador

Los testpoints varían según el fabricante y el modelo del procesador utilizado en el dispositivo. A continuación, se presenta una clasificación de los testpoints según la marca de procesador:

Qualcomm Snapdragon:

Testpoint	Función	Ubicación
TP1	Medición de voltaje de la CPU	Superficie
TP2	Punto de acceso JTAG	Interno
TP3	Medición de voltaje de RF	Superficie
TP4	Punto de acceso UART	Interno

Apple A-series (Bionic Chip):

Testpoint	Función	Ubicación
TP1	Punto de acceso DFU	Superficie
TP2	Medición de voltaje de la GPU	Superficie
TP3	Punto de acceso JTAG	Interno
TP4	Medición de señales de datos	Superficie

Samsung Exynos:

Testpoint	Función	Ubicación
TP1	Punto de acceso JTAG	Interno
TP2	Medición de voltaje de la CPU	Superficie
TP3	Punto de acceso UART	Interno
TP4	Medición de señales de RF	Superficie